EMC
测试频点的选择根据客户需求。
微波暗室以静区中心为参考点，将微波暗室的测试方位划分为四个区域，示意图如图1所示。从微波暗室上方俯视，在静区中心位置向暗室内区域的四个角连线，将暗室分为A1、A2、A3、A4四个方位区域。测试时，在静区位置按照不同的行程线测量不同的区域。
微波暗室的静区一般是位于纵轴上一个圆柱体，近似用长方体来描述其边界。下面以一个典型静区来说明行程线的选取。
在微波暗室静区内选择若干条直线，测量时接收天线以一定指向沿这些直线运动，这些直线被称为测量行程线。如图2 所示，待测的微波暗室静区中心为O，在微波暗室纵轴方向，通过静区中心的行程线定为纵向行程线Z1Z2，此时测量A2区域内反射信号对静区的影响。在微波暗室横截面水平方向，通过静区中心的行程线定为横向行程线X1X2，此时测量A1和A3区域内反射信号对静区的影响。在微波暗室横截面垂直方向，通过静区中心的行程线定为垂直行程线Y1Y2，此时测量A4区域内反射信号对静区的影响。
纵向线探测方向选取：从微波暗室上方俯视，面对发射源，平行于微波暗室纵向轴线的方向定为0°方向。探测方位角选择以下角度：0°、120°、150°、180°、210°、240°。其中纵向线的0°方向测得的信号作为这条行程线其它角度测试的参考电平，这时主要测量后墙的反射。
横向线探测方向选取：从微波暗室上方俯视，面对发射源，平行于微波暗室纵向轴线的方向定为0°方向。探测方位角选择以下角度：0°、60°、90°、120°、240°、270°、300°。其中水平横向线的0°方向测得的信号作为这条行程线其它角度测试的参考电平，这时主要测量侧墙的反射。
垂直线探测方向选取：从微波暗室水平方向侧视，面对发射源，平行于微波暗室地面的方向定为0°方向。向上为仰角，向下为俯角。并定义仰角为正向角度，俯角为负向角度。垂直线的探测方位选择以下角度：0°、+45°、-45°。其中垂直线的0°方向测得的信号作为这条行程线其它角度测试的参考电平，这时主要测量地面和天花板的反射。
测试纵向行程线和横向行程线的时，仅改变方位角，俯仰角始终保持0°方向，如图3和图4 所示；测试垂直行程线的时，仅改变俯仰角，方位角始终保持0°方位，如图5所示。
（1）暗室静区反射电平按公式计算：
计算接收天线按各个角度，各个行程线行走时，接收到的信号电平最大值和最小值的差值。
发射天线放置在暗室内预期的发射天线位置上，接收天线放置在静区中心。天线间的距离满足远场条件。
在水平面和垂直面内进行两次交叉极化隔离度测量。
a) 按图6连接测试设备，接收天线位于静区中心；
b) 选择水平测量平面，调整发射天线和接收天线的极化，使它们的极化方向一致；
c) 将信号源输出频率设置为测试频率，记录测试设备接收到的信号幅度，记为A；
d) 改变接收天线的极化与原极化正交，记录测试设备接收到的信号幅度，记为B；
e) 其他设置不变，信号源输出频率设置为下一测试频率，重复步骤b)~d)；
f) 在垂直测量平面，重复步骤b)~e)。
交叉极化隔离度用以下的公式计算：
B：表示发射天线和接收天线的极化正交时，接收的信号电平，dBm。
发射天线放置在暗室内预期的发射天线位置上，接收天线放置在静区中心。通常是在暗室的测量轴上。天线间的距离应满足远场条件。
发射天线和接收天线均为线极化天线。
在水平面和垂直面以及两个45度平面内进行路径损耗均匀性的测量。
a) 按图6所示连接测量设备；
b) 调节发射天线和接收天线的指向位置，天线间的连线应通过静区中心；
c) 将信号源输出调至合适幅度；并在后面的测量过程中保持发射信号的幅度不变；
d) 选择某个测量平面，调节发射天线和接收天线的极化方向，使他们的极化方向相同；
e) 将信号源输出设置为某个测量频率，记录接收信号的幅度；
f) 以天线的轴线为旋转轴同步转动发射天线和接收天线，每45度记录一次接收信号的幅度；
g) 在所有的测量频率，重复e)～f)。
路径损耗均匀性用接收信号幅度的最大值和最小值之差来表示。
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